[发明专利]测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201811501701.8 申请日: 2018-12-10
公开(公告)号: CN109633408B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 马会林;杨明强;尹建刚;曾威;黄嘉;张红江;顾郧;魏贤哲;何家福;叶武海;洪斌;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R29/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 何平
地址: 518051 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种测试系统和测试方法,包括上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表,上述测试系统能通过上位机、数据采集卡、主控模块和静电释放发生器对待测元件进行抗静电检测,能通过上位机、数据采集卡、主控模块和源表对待测元件进行光电检测及数据采集。并且对于上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表,任一设备损坏,检测人员可以单独对损坏的设备进行更换,降低了生产成本。此外,通过主控模块可以对数据采集卡的输出接口进行扩展,可以同时采集多个待测元件根据测试信号产生的电信号,提高了数据采集卡的带载能力,进而提高了生产效率。
搜索关键词: 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种测试系统,用于对待测元件进行测试,其特征在于,包括:上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表;所述上位机连接所述数据采集卡和所述源表,所述主控模块连接所述数据采集卡、所述扩展的静电释放发生器及所述扩展的源表,所述扩展的静电释放发生器用于连接扩展的所述待测元件,所述扩展的源表用于连接扩展的所述待测元件;所述上位机用于发送第一控制信号给所述数据采集卡,还用于发送第二控制信号给所述源表,接收所述数据采集卡的电信号;所述数据采集卡用于接收所述第一控制信号,根据所述第一控制信号发送第三控制信号给所述主控模块,所述数据采集卡还用于接收所述主控模块输出的电信号并将所述电信号传输给所述上位机;所述源表用于接收所述第二控制信号,根据所述第二控制信号发送测试信号给所述待测元件;所述主控模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口,根据所述数据采集卡的第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试;所述主控模块还用于采集所述待测元件根据所述测试信号产生的第一电信号,并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡;所述主控模块还用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡;所述静电释放发生器用于根据所述第三控制信号对所述待测元件进行静电测试。
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