[发明专利]性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 201811500812.7 | 申请日： | 2018-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN109669865A | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 彭红燕 | 申请（专利权）人： | 万兴科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 苏胜 |
| 地址： | 850000 西藏自治区拉萨市柳梧新区东环路以西*** | 国省代码： | 西藏;54 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。该方法应用于电子设备，该方法包括：运行设定的测试程序；对电子设备的指定功能进行N次性能测试；调用设定的性能统计工具，针对每次测试，按照设定的间隔时间多次获取指定功能的性能参数；将获取到的每次测试的性能参数导出到Excel并进行数据处理，获取该次测试的第一性能数据；对各次测试获取到的第一性能数据进行数据处理，获取第二性能数据。由此，对电子设备的指定功能的性能进行可靠的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 测试 性能数据 可读存储介质 性能参数 性能测试 数据处理 性能统计工具 测试程序 导出 调用 | ||
【主权项】：
1.一种性能测试方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：运行设定的测试程序；对所述电子设备中被测试应用的指定功能进行N次性能测试，其中，N为大于1的整数；调用设定的性能统计工具，针对每次测试，按照设定的间隔时间多次获取所述指定功能的性能参数；将获取到的每次测试的性能参数导出到Excel并进行数据处理，获取该次测试的第一性能数据；对各次测试获取到的第一性能数据进行数据处理，获取第二性能数据。
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