[发明专利]一种平面同轴光源在审
申请号: | 201811495258.8 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN109555998A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 何贵明;赵春艳;姚平;夏雪婷 | 申请(专利权)人: | 珠海博明视觉科技有限公司 |
主分类号: | F21S2/00 | 分类号: | F21S2/00;F21V5/04;F21V7/06;F21V19/00;F21V5/02;F21V29/76 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 谈杰 |
地址: | 519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种平面同轴光源,包括由N个平行设置的分光面组成的分光组以及位于分光组一侧的平行光组件,所述平行光组件用于向所述分光组发射平行光;所述平行光在分光面上的入射角为45度,分光面在垂直于平行光入射方向上的高度与相邻两个反光面在平行光入射方向上的距离相等,所述分光面在垂直于平行光入射方向上的高度与平行光的光束高度H相等,平行光的光束高度H与待测物在平行光入射方向上的长度L满足N*H≥L的关系,N≥2;将所述N个分光面沿平行光入射方向顺序编号为N‑1,第n个分光面的反射比Rn和透射比Tn满足如下条件:Rn=R(n‑1)*T(n‑1),Tn=1‑Rn,R1=0.5,T1=0.5。本发明可有效降低平面同轴光源的高度,减小光源整体的体积,有助于提升测量精度。 | ||
搜索关键词: | 平行光 入射方向 分光面 同轴光源 分光组 分光 垂直 光源整体 距离相等 平行设置 待测物 反光面 反射比 入射角 透射比 减小 相等 测量 发射 | ||
【主权项】:
1.一种平面同轴光源,其特征在于:包括由N个平行设置的分光面组成的分光组以及位于分光组一侧的平行光组件,所述平行光组件用于向所述分光组发射平行光;所述平行光在分光面上的入射角为45度,分光面在垂直于平行光入射方向上的高度与相邻两个反光面在平行光入射方向上的距离相等,所述分光面在垂直于平行光入射方向上的高度与平行光的光束高度H相等,平行光的光束高度H与待测物在平行光入射方向上的长度L满足N*H≥L的关系,N≥2;将所述N个分光面沿平行光入射方向顺序编号为N‑1,第n个分光面的反射比R(n)和透射比T(n)满足如下条件:Rn=R(n‑1)*T(n‑1),Tn=1‑Rn,R1=0.5,T1=0.5。
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