[发明专利]一种红外阵列辐射源校准装置及校准方法

摘要

本发明提出一种红外阵列辐射源校准装置及校准方法，装置包括光源系统、准直光学系统、平面反射镜、精密转台、会聚光学系统、红外图像采集系统、辐射探测系统、数据采集系统和计算机及测控系统。本发明采用被测红外阵列辐射源与参考黑体的比较的方法，参考黑体选用一级标准黑体，一级标准黑体可以直接溯源到凝固点黑体上，其温度稳定性±0.1℃/h，发射率可达0.995，极大的提高了测量的准确性，并减小了测量结果不确定度。本发明低背景源用于消除背景辐射，增加辐射探测系统的探测能力，提高系统的探测精度和稳定性，低背景源制成中空桶状，内部结构全部采用焊接密封，可以注入液氮用，为探测器提供一个冷背景，降低环境的辐射，提高信噪比。

主权项

1.一种红外阵列辐射源校准方法，其特征在于：校准参数为红外阵列辐射源等效温度、光谱辐射亮度、面均匀性、对比度和最小可分辨温差；/n采用的校准装置包括光源系统(1)、准直光学系统(2)、平面反射镜(3)、精密转台(4)、会聚光学系统(5)、红外图像采集系统(6)、辐射探测系统(7)、数据采集系统(8)和计算机及测控系统(9)；/n所述光源系统(1)由参考黑体、被测红外阵列辐射源及一维电动平移台构成，由一维电动平移台控制，能够依次将参考黑体和被测红外阵列辐射源移入测试光路；/n所述准直光学系统(2)由光阑和平行光管组成，光阑限制进入准直光学系统的杂光，平行光管将参考黑体或被测红外阵列辐射源产生的光变为平行光；/n所述平面反射镜(3)安装在精密转台(4)上，由准直光学系统转换的平行光入射到平面反射镜上，根据测试参数的需要，精密转台(4)控制平面反射镜(3)将入射光反射到会聚光学系统(5)或红外图像采集系统(6)，其中测试等效温度、光谱辐射亮度、面均匀性时，反射到会聚光学系统(5)，测试对比度以及最小可分辨温差时，反射到红外图像采集系统(6)；/n所述会聚光学系统(5)会聚的光输入辐射探测系统(7)；所述辐射探测系统(7)由滤光片(7-1)、视场光阑(7-2)、斩波器(7-3)、椭球反射镜(7-4)、红外探测器(7-5)、低背景源(7-6)组成；/n经会聚光学系统(5)会聚的光经过滤光片转换为测试波段的信号光，经视场光阑滤除杂光后，由斩波器调制，将调制后的信号经椭球反射镜反射进入红外探测器，低背景源为红外探测器提供低背景；/n辐射探测系统(7)的测试输出信号由数据采集系统(8)采集后，输出至计算机及测控系统(9)；/n红外图像采集系统(6)的输出信号直接输出至计算机及测控系统(9)；/n对于等效温度：/n首先，将被测红外阵列辐射源移入光路，将其温度设置为T