[发明专利]序列测试的优化实现方法在审
| 申请号： | 201811489008.3 | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109617653A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 康红娟 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00;G06F7/76;G06F11/36 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 李凌峰 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出一种序列测试的优化实现方法，属于数据通信和信息安全领域。本发明解决了计算机在执行现有序列测试时效率低的问题，其技术方案要点为：首先，对输入的待检序列采用合并多个不同参数下的序列频数统计同时进行基于字节的统计的方式而不是现有的分参数按比特处理方式进行序列频数统计；其次，将参数m＝5和m＝2时的子序列频数统计流程合并在一起执行；然后，频数统计时基于字节进行处理；最后，进行优化结果判断流程。本发明具有检查高效、占用存储资源小等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 频数 序列测试 统计 技术方案要点 信息安全领域 比特处理 存储资源 数据通信 优化结果 合并 子序列 优化 占用 计算机 检查 | ||
【主权项】：
1.序列测试的优化实现方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、统计频数，具体为：记n/8字节的二元待检序列的字节表示为ε＝B1B2…Bn/8，分别统计序列的5位、4位、3位、2位、1位子序列的所有频数Vi(5)(0≤i≤31)、Vi(4)(0≤i≤15)、Vi(3)(0≤i≤7)、Vi(2)(0≤i≤3)、Vi(1)(0≤i≤1)，0位子序列的频数V(0)＝n；S2、根据统计的各个频数计算相应的统计量，具体为：先计算![]()
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然后计算统计量![]()
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S3、阈值判断，具体为：将计算得到统计量与阈值进行对比，如果统计量满足要求，则认为待检序列通过检测，否则未通过。
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