[发明专利]一种数据比较方法及装置在审
| 申请号： | 201811463981.8 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN109325059A | 公开（公告）日： | 2019-02-12 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 枘熠集成电路（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/2455 | 分类号： | G06F16/2455;G06F16/2458;G06F16/215;G06K9/62;G06Q50/04;G06Q10/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200120 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数据比较方法及装置，应用于半导体行业日常数据的比较分析，包括样本数据收集，异常值检测与排除，工程指标核验，判断是否已知当前总体样本数据分布类型，总体样本数据分布类型检测，进行参数比较方法，进行非参数统计比较方法，进行工程方法判定等过程。本发明提供了一套完备的试用范围广的数据比较方法及装置，用来指导半导体行业日常数据比较分析实践。 | ||
| 搜索关键词： | 数据比较 样本数据 半导体行业 比较分析 分布类型 日常数据 非参数统计 异常值检测 参数比较 工程指标 核验 判定 检测 应用 | ||
【主权项】：
1.一种数据比较方法，应用于半导体行业日常数据的比较分析，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：样本数据收集；步骤二：异常值检测与排除；步骤三：工程指标核验，如果核验结果不通过，则当前样本数据不可接受，如果核验结果通过，则转到步骤四；步骤四：判断是否已知当前总体样本数据分布类型，如果是，则转到步骤五，如果否，则转到步骤六；步骤五：进行参数比较方法，如果通过，则当前样本数据是可接受的，如果不通过，则转到步骤七；步骤六：进行总体样本数据分布类型检测，若所述分布类型检测通过，则转到步骤五，若所述分布类型检测不通过，则转到步骤八；步骤七：进行工程方法判定，如果不通过，则当前样本数据是不可接受的，如果通过，则当前数据是可接受的；步骤八：进行非参数统计比较方法，如果通过，则当前样本数据是可接受的，如果不通过，则转到步骤七。
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