[发明专利]测试和测量探针耦合器在审

专利信息
申请号: 201811455368.1 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN109870596A 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: J.A.巴特莱特 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/067
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 邹松青;谭祐祥
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种测试和测量探针耦合器,其可以包括基质、第一信号抽头导体、第一信号触点、第一接地抽头导体和第一接地触点。第一信号抽头导体可以沿基质延伸第一长度。第一信号触点可以电联接到第一信号抽头导体,并且第一接地抽头导体可以沿基质延伸第二长度。第一接地抽头导体可以大体平行于第一信号抽头导体。第一接地抽头导体可以沿远离第一信号抽头导体的第一横向方向设置,并且第一接地触点可以电联接到第一接地抽头导体。
搜索关键词: 抽头 导体 接地 基质 测量探针 接地触点 耦合器 触点 横向方向设置 测试 延伸 平行
【主权项】:
1.一种测试和测量探针耦合器,包括:基质;沿所述基质延伸第一长度的第一信号抽头导体;电联接到所述第一信号抽头导体的第一信号触点;沿所述基质延伸第二长度的第一接地抽头导体,所述第一接地抽头导体大体平行于所述第一信号抽头导体,并且所述第一接地抽头导体是沿远离所述第一信号抽头导体的第一横向方向设置;以及电联接到所述第一接地抽头导体的第一接地触点。
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