[发明专利]一种高速链路系统的测试装置及方法有效
| 申请号： | 201811445288.8 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111245530B | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 刘春伟 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/20 | 分类号： | H04B17/20;H04B17/309;H04L27/04 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种高速链路系统的测试装置，包括：芯片测试器件、传输插入损耗ISI衰减器件、串扰ISI衰减器件和串扰XTK测试器件；所述XTK测试器件，用于将接收到的串扰测试信号在接收到的传输测试信号中形成串扰信号，并将承载所述串扰信号的传输测试信号传输至所述芯片测试器件；所述芯片测试器件，还用于对承载所述串扰信号的传输测试信号的质量参数进行测试评估。本发明还公开了一种高速链路系统的测试方法，通过实施上述方案，有效提高了对承载串扰信号的传输测试信号的质量参数测试评估精度；简化了对承载串扰信号的传输测试信号的质量参数测试评估步骤，提高了对承载串扰信号的传输测试信号的质量参数测试评估效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高速 系统 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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