[发明专利]一种基线自校准测量方法有效

专利信息
申请号: 201811415281.1 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN109579805B 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 陈心一 申请(专利权)人: 成都经纬时空科技有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01C5/00;G01B11/16
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 李蕊;李林合
地址: 610000 四川省成都市天府*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基线自校准测量方法,包括如下步骤:S1、根据被监测点的位置设置校准基点;S2、将被监测点进行分组;S3、根据已有控制点,按照最小二乘原理计算测站起始方向;S4、确定校准基点的实时改正系数;S5、根据校准基点的实时改正系数,使用平面切分法,获取平面交点的实时过渡改正系数;S6、根据平面交点的实时过渡改正系数,使用空间距离法,获取被监测点的实时改正系数;S7、根据被监测点的实时改正系数,得到被监测点的实时改正之后的边长和高差;解决了现有技术存在的气象改正不完善、监测系统复杂、及时性差以及其他系统误差无法较彻底消除导致的监测成果准确性低的问题;真正实现了自动化的高精度三维变形监测。
搜索关键词: 一种 基线 校准 测量方法
【主权项】:
1.一种基线自校准测量方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:根据监测对象,设置被监测点,并根据其位置,使用校准基点设置方法,设置校准基点;S2:根据被监测点分组方法,将被监测点进行分组;S3:初始化测站,即确定测站起始方向;S4:根据测站和已经确定的起始方向,计算校准基点的实时改正系数;S5:根据校准基点的实时改正系数,使用平面切分法,获取平面交点的实时过渡改正系数;S6:根据平面交点的实时过渡改正系数,使用空间距离法,获取被监测点的实时改正系数;S7:根据被监测点的实时改正系数,得到被监测点的改正之后的边长和高差。
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