[发明专利]交流电器电寿命实验过程中测试触点电压降的电路

摘要

交流电器电寿命实验过程中测试触点电压降的电路，涉及对继电器、接触器和开关触点电压降的测量，能够在兼顾测试精度的同时大幅提高测量范围。其方案是由被测电路中交流电压源对成串联关系的负载和被测触点对进行激励。被测触点对两端的微小触点电压降经过低通滤波器进入双路高阻低倍电压放大器，经过放大后的电压信号进入增益可调的电压放大器，得到输出电压，其幅度与触点对的触点电压降成一次函数关系。增益可调的电压放大器和双路高阻低倍电压放大器输出电压进入多路AD转换器转为数字量。由于电路中设置了零磁通式霍尔电流传感器组和增益可调的电压放大器，能够在兼顾测试精度的同时大幅提高测量范围，有效克服现有测量仪器的不足之处。

主权项

1.交流电器电寿命实验过程中测试触点电压降的电路，它包括交流电压源(1)、负载(2)和被测触点对(3)，其特征在于它还包括零磁通式霍尔电流传感器组(4)、限流电阻(5)、低通滤波器(7)、双路高阻低倍电压放大器(8)、增益可调的电压放大器(9)、多路AD转换器(10)、单片机(11)和显示模块(12)，交流电压源(1)的一个电极连接负载(2)的一端，负载(2)的另一端连接被测触点对(3)中的一个触点和低通滤波器(7)的一个信号输入端，交流电压源(1)的另一个电极穿过零磁通式霍尔电流传感器组(4)，连接被测触点对(3)的另一个触点和限流电阻(5)的一端，限流电阻(5)的另一端连接低通滤波器(7)的另一个信号输入端，零磁通式霍尔电流传感器组(4)的电压信号输出端连接双路高阻低倍电压放大器(8)的第一路信号输入端，低通滤波器(7)的信号输出端连接双路高阻低倍电压放大器(8)的第二路信号输入端，双路高阻低倍电压放大器(8)的第二路信号输出端连接增益可调的电压放大器(9)的信号输入端，增益可调的电压放大器(9)的信号输出端连接多路AD转换器(10)的CH0通道信号输入端，双路高阻低倍电压放大器(8)的第一路信号输出端连接多路AD转换器(10)的CH1通道信号输入端，多路AD转换器(10)的CH0通道信号输出端和CH1通道信号输出端分别连接单片机(11)的一个信号输入端，单片机(11)的显示信号输出端连接显示模块(12)的信号输入端，单片机(11)的第一控制信号输出端连接增益可调的电压放大器(9)的控制信号输入端，单片机(11)的第二控制信号输出端连接零磁通式霍尔电流传感器组(4)的控制信号输入端。