[发明专利]检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201811385767.5 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN111198192B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 陈鲁;黄有为;崔高增;王天民 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 王仲凯
地址: 518110 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种检测设备,包括:光源发生器,生成待处理光线;光源处理器,对待处理光线进行处理,以在待测物上形成尺寸可调节的光斑;信号收集器,在不同放大倍率下收集检测区域中的缺陷产生的探测光;探测器,对探测光进行探测得到探测光信号。本申请实施例还提供相应的检测方法。本申请技术方案由于通过光源处理器产生不同尺寸的光斑,可以满足检测设备在多种检测精度下的需求,并且避免了光斑尺寸过大导致光斑照射到检测区域以外的区域,产生干扰信号,影响检测结果的准确度的问题,进而能够适应不同情况对光斑尺寸的要求。
搜索关键词: 检测 装置 方法
【主权项】:
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