[发明专利]一种点激光位移传感器测量误差校对的实验方法及装置在审
申请号: | 201811368682.6 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109269422A | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 姚斌;马晓帆;卢杰;房倡竹;蔡志钦;李阳 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种点激光位移传感器测量误差校对的实验方法及装置,涉及点激光位移传感器。实验装置设有激光干涉仪、光路组件、六自由度固定架、点激光位移传感器、正弦规、分度盘、标准量块和数控加工中心。构建了点激光位移传感器测量物面时的入射倾角、转角转角和入射摆角数学模型,推导出三者关系,为点激光位移传感器误差校对提供了理论支持。基于数学模型,搭建了误差校对实验装置,操作简单,针对性强,可以极大简化实验工作量。对实验结果进行了误差分析,得到了入射倾角、入射转角、入射摆角三个测量因素对测量误差的影响规律,为基于点激光位移传感器的工件非接触快速、精确检测技术提供保障。 | ||
搜索关键词: | 激光位移传感器 入射 校对 转角 实验装置 数学模型 测量 摆角 数控加工中心 激光干涉仪 标准量块 测量因素 光路组件 检测技术 理论支持 六自由度 误差分析 影响规律 测量物 非接触 分度盘 固定架 正弦规 构建 推导 工作量 | ||
【主权项】:
1.一种点激光位移传感器测量误差校对的实验装置设有激光干涉仪、光路组件、六自由度固定架、点激光位移传感器、正弦规、分度盘、标准量块和数控加工中心;所述激光干涉仪和光路组件由磁力表架固定在数控加工中心的Z轴和工作台上,Z轴通过数控系统控制进行移动;六自由度固定架安装在数控加工中心的Z轴上,分度盘安装在工作台上,所述正弦规放置在点激光位移传感器正下方的分度盘上,随分度盘进行转角的旋转,入射倾角由正弦规、标准量块搭建,通过调整标准量块的高度达到调整入射倾角大小的目的,通过调整旋转分度盘和六自由度固定架调整入射转角、入射摆角的大小。
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