[发明专利]一种环境样品的快速测量方法有效
| 申请号： | 201811351809.3 | 申请日： | 2016-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109298442B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 李则书;拓飞;张京;周强 | 申请（专利权）人： | 中国疾病预防控制中心辐射防护与核安全医学所 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 何志欣;侯越玲 |
| 地址： | 100088*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种环境样品的快速测量方法，该方法采用支架辅助完成对环境样品的放射性的测量过程；该方法包括：将用于放射性测量的探测器的圆柱形探头经铅屏蔽圆柱形通孔插入铅屏蔽结构中；将待测放射性环境样品置入支架结构的样品槽中；将所述支架的管体沿着铅屏蔽通孔另一端插入铅屏蔽结构中并由所述限位部调节控制支架的插入深度；和打开探测器完成对待测放射性的环境样品的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 环境 样品 快速 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种环境样品的快速测量方法，其特征在于，该方法采用支架辅助完成对环境样品的放射性的测量过程；该方法包括：将用于放射性测量的探测器(8)的圆柱形探头(11)经铅屏蔽圆柱形通孔插入铅屏蔽结构中；将待测放射性环境样品置入支架结构的样品槽(7)中；将所述支架的管体(1)沿着铅屏蔽通孔另一端插入铅屏蔽结构中并由所述限位部(3)调节控制支架的插入深度；和打开探测器(8)完成对待测放射性的环境样品的测量。
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