[发明专利]红外焦平面器件盲元检测方法在审
| 申请号： | 201811351297.0 | 申请日： | 2018-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN109990908A | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 王建兵;李西军;沈波;徐卫峰;罗远建;杨超;项勇;刘方方 | 申请（专利权）人： | 铜陵有色金属集团铜冠物流有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10 |
| 代理公司： | 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 | 代理人： | 吴晨亮 |
| 地址： | 244000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明公开了红外焦平面器件盲元检测方法，它包括以下步骤：（1）、分别用高低两个温度的均匀黑体辐射红外探测器，并分别记录探测器各个像元的响应值，将高温黑体辐射的响应记为 |
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| 搜索关键词： | 黑体辐射 响应 像元 黑体 盲元检测 红外焦平面器件 红外探测器 过热像元 两次检测 有效像元 探测器 准确率 相等 判定 重复 记录 统计 | ||
【主权项】：
1.红外焦平面器件盲元检测方法，其特征是它包括以下步骤：（1）、分别用高低两个温度的均匀黑体辐射红外探测器，并分别记录探测器各个像元的响应值，将高温黑体辐射的响应记为![]()
，低温黑体辐射的响应记为![]()
，其中i=1‑M，j=1‑N，M和N和分别为红外焦平面阵列的行数和列数;(2)、计算出所有像元高温黑体与低温黑体辐射响应值的差值![]()
；（3）、计算出盲元除外的所有有效像元高温黑体与低温黑体辐射响应值差值的均值![]()
，其中，d和h分别为死像元和过热像元数；（4）、设置阈值![]()
和![]()
，其中α的取值为0.2‑0.9，β的取值为1‑2，将每个像元的高温黑体与低温黑体辐射响应值的差值与设定的阈值进行比，若![]()
，则判定为死像元，如果![]()
，则判定为过热像元，处于两者之间则判定为正常像元，判定的同时对盲元的个数进行统计；（5）、重复上述步骤（3）、（4），直至相邻两次检测出的盲元个数相等为止。
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