[发明专利]一种自动化RAM容量测试装置在审
| 申请号： | 201811346453.4 | 申请日： | 2018-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN109491869A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 李鑫;张楠;王旭;仇旭东;徐艺轩 | 申请（专利权）人： | 天津津航计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/30 | 分类号： | G06F11/30 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 袁孜 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动化RAM容量测试装置，属于RAM技术领域，可以应用在各类采用RAM存储器的硬件系统中。为了解决硬件系统在适配不同容量的RAM时无法自动识别RAM的容量和宽度的问题。该装置通过对RAM位宽和深度采用特定算法进行多次试探性采样确定RAM的位宽和深度，在得到正确的位宽和深度参数后计算出RAM的容量。该方法可以通过硬件实现模块化并嵌入到硬件电路系统中，使系统具备自动识别RAM容量的功能，在系统更换RAM后不用更改系统代码和状态，提高了系统的兼容性、易用性和可维护性，具有十分重要的应用意义。 | ||
| 搜索关键词： | 测试装置 硬件系统 自动识别 自动化 硬件电路系统 更改系统 可维护性 深度参数 系统更换 应用意义 硬件实现 兼容性 模块化 易用性 采样 适配 算法 嵌入 应用 | ||
【主权项】：
1.一种自动化RAM容量测试装置，其特征在于，主要由RAM位宽测试模块、RAM深度测试模块、RAM容量计算模块和总线接口模块四部分组成；RAM位宽测试模块对RAM的位宽参数进行测试，将测试的位宽参数发送给RAM容量计算模块；RAM深度测试模块负责对RAM的深度参数进行测试，将测试的深度参数发送给RAM容量计算模块；RAM容量计算模块接收RAM位宽测试模块和RAM深度测试模块提供的RAM位宽参数和RAM深度参数，并通过位宽参数和深度参数来计算出RAM的容量，将位宽参数、深度参数和容量参数通过总线接口模块传递给外部处理器进行处理；总线接口模块作为RAM容量测试模块和外部处理器的接口，用于数据的传输。
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