[发明专利]红外线阵列占用感测装置在审

专利信息
申请号: 201811330276.0 申请日: 2018-11-09
公开(公告)号: CN111174923A 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 王建勋;游文章;余建兴;古仁斌;蔡志勇 申请(专利权)人: 众智光电科技股份有限公司
主分类号: G01J5/12 分类号: G01J5/12
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 徐伟
地址: 中国台湾新竹市新竹*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种利用红外线热电堆阵列传感器做占用(Occupancy)感测装置,以方便需要占用感测的应用,包括一个具有宽视角镜片的热电堆阵列传感器与信号处理器。热电堆阵列传感器用以感测辐射体的热辐射,包括一宽视角红外线镜片、一热电堆阵列感测芯片,及一热敏电阻。信号处理器接收感测温度信号与传感器环境信号,通过模拟至数字转换与算法,得出量测辐射体与环境温度差值与预设值比较,输出数字控制信号。
搜索关键词: 红外线 阵列 占用 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于众智光电科技股份有限公司,未经众智光电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811330276.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top