[发明专利]一种用于测控保护装置的AD校验方法及系统有效
申请号: | 201811318573.3 | 申请日: | 2018-11-07 |
公开(公告)号: | CN109254216B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 杨新超;成怀宁;尹明铉 | 申请(专利权)人: | 紫光测控有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人: | 蒙建军 |
地址: | 300308 天津市滨海新区*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于测控保护装置的AD校验方法及系统,属于电力系统继电保护技术领域,通过对测控保护装置的保护量和相应的测控量数据对比,以及和外接零序的数据对比,进行模拟量采集回路的检测;其特征在于:至少包括如下步骤:步骤一:有效值计算;步骤二:突变量计算;所述突变量为模拟量当前有效值与两周波前有效值之差的绝对值;步骤三:模拟量突变判断;所述模拟量突变为对应突变量大于为其设置的突变量门槛值;步骤四:AD异常判断。本发明能够对测控保护装置的模拟量采集回路实时检测,检测范围可扩展至测控保护装置外部CT回路,提高了继电保护运行的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测控 保护装置 ad 校验 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于测控保护装置的AD校验方法,通过对测控保护装置的保护量和相应的测控量数据对比,以及和外接零序的数据对比,进行模拟量采集回路的检测;其特征在于:至少包括如下步骤:步骤一:有效值计算;步骤二:突变量计算;所述突变量为模拟量当前有效值与两周波前有效值之差的绝对值;步骤三:模拟量突变判断;所述模拟量突变为对应突变量大于为其设置的突变量门槛值;步骤四:AD异常判断;具体为:当某相保护电流和测控电流有且只有一个突变时,则该相电流异常,否则判定该相电流正常;当某相保护电压和测控电压有且只有一个突变时,则该相电压异常,否则判定该相电压正常;三相电流均正常时,如果零序电流突变,则零序电流异常,否则判定零序电流正常;三相电压均正常时,如果零序电压突变,则零序电压异常,否则判定零序电压正常;当某相保护电流和测控电流有效值之差的绝对值与两者之和的比值大于为其设置的门槛值时,则该相电流异常,否则判定该相电流正常;当某相保护电压和测控电压有效值之差的绝对值与两者之和的比值大于为其设置的门槛值时,则该相电压异常,否则判定该相电压正常;当三相电流、零序电流、三相电压或零序电压存在异常时,则AD异常,需要闭锁相关保护。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于紫光测控有限公司,未经紫光测控有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811318573.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种避雷器动作记录器
- 下一篇:一种单侧夹具的S参数提取方法