[发明专利]一种辐射散热表面光学系数测量装置有效

专利信息
申请号: 201811302426.7 申请日: 2018-11-02
公开(公告)号: CN109357768B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 王珏;张旭;魏晓楠;魏鑫;仲小清;温正 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/20
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100194 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种辐射散热表面光学系数测量装置,包括:被测辐射散热表面、基板、杯状结构热屏、测温电阻Ⅰ、测温电阻Ⅱ、固定卡环、固定螺钉、薄膜电加热片Ⅰ和薄膜电加热片Ⅱ;被测辐射散热表面与基板粘帖构成装置敏感面;杯状结构热屏内表面粘贴测温电阻Ⅰ和薄膜电加热片Ⅰ;基板下表面粘贴测温电阻Ⅱ和薄膜电加热片Ⅱ;基板通过固定卡环和固定螺钉与杯状结构热屏连接。本发明实现了对航天器辐射散热表面的光学系数进行在轨实际测量,测量结果可以用于航天器辐射散热表面的全寿命性能退化模型,还可用于对航天器表面污染效应的测量和评估。
搜索关键词: 一种 辐射 散热 表面 光学 系数 测量 装置
【主权项】:
1.一种辐射散热表面光学系数测量装置,其特征在于,包括:被测辐射散热表面(1)、基板(2)、杯状结构热屏(3)、测温电阻Ⅰ(41)、测温电阻Ⅱ(42)、固定卡环(5)、固定螺钉(6)、薄膜电加热片Ⅰ(71)和薄膜电加热片Ⅱ(72);被测辐射散热表面(1)与基板(2)粘帖构成装置敏感面;杯状结构热屏(3)内表面粘贴测温电阻Ⅰ(41)和薄膜电加热片Ⅰ(71);基板(2)下表面粘贴测温电阻Ⅱ(42)和薄膜电加热片Ⅱ(72);基板(2)通过固定卡环(5)和固定螺钉(6)与杯状结构热屏(3)连接。
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