[发明专利]一种空间探测器起飞或着陆过程光学测量系统及方法有效
| 申请号： | 201811291123.X | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN109269525B | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 唐明章;王立武;张章;王洁;张欢;张剑勇;吕智慧;郭李杨;张兴宇;王治国 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01C23/00 | 分类号： | G01C23/00;G01C11/08;G01C11/28 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张晓飞 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种空间探测器起飞或着陆过程光学测量系统及方法，包括：标定模块、成像模块、数据处理模块；成像模块对待测空间探测器的起飞或着陆过程进行成像，将成像结果传输给数据处理模块；标定模块标定成像模块的内方位元素和外方位元素，将内方位元素和外方位元素传输给数据处理模块；数据处理模块接收成像模块传输的成像结果，接收标定模块传输的内方位元素和外方位元素；根据成像结果、内方位元素和外方位元素解算待测空间探测器在起飞或着陆过程中的运动参数。本发明采用基于控制点的双目位姿测量算法，对空间探测器在地外天体表面起飞过程中的空间位置、姿态等物理量进行精确测量，获得空间探测器的速度、加速度和旋转角速度等运动参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 探测器 起飞 着陆 过程 光学 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种空间探测器起飞或着陆过程光学测量系统，其特征在于，包括：标定模块、成像模块、数据处理模块；成像模块：对待测空间探测器的起飞或着陆过程进行成像，将所述成像结果传输给数据处理模块；标定模块：标定成像模块的内方位元素和外方位元素，将所述内方位元素和外方位元素传输给数据处理模块；数据处理模块：接收所述成像模块传输的所述成像结果，接收所述标定模块传输的所述内方位元素和外方位元素；根据所述成像结果、所述内方位元素和外方位元素解算待测空间探测器在起飞或着陆过程中的运动参数。
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