[发明专利]电子部件测试用分选机

摘要

本发明涉及一种电子部件测试用分选机。根据本发明的电子部件测试用分选机中，在开闭测试腔室的第一出入口的开闭装置开放所述第一出入口后封闭所述第一出入口之前，将载有完成测试的电子部件的测试托盘从测试腔室搬出，并将载有需要测试的电子部件的测试托盘搬入测试腔室。根据本发明，具有可以最小化测试腔室的温度环境的损失并提高处理容量的效果。

主权项

1.一种电子部件测试用分选机，其中，包括：装载装置，将载于客托盘的电子部件装载到位于装载位置的测试托盘；第一均热腔室，在收容通过所述装载装置而载有电子部件的测试托盘后向电子部件施加热刺激；测试腔室，收容经由所述第一均热腔室而来的测试托盘，提供能够测试收容的测试托盘的电子部件的温度环境，并具有能够使测试托盘出入的第一出入口；连接装置，将被收容于所述测试腔室的测试托盘的电子部件电连接到测试器；开闭装置，开闭所述测试腔室的所述第一出入口；卸载装置，从在从所述测试腔室搬出后移动到卸载位置的测试托盘卸载完成测试的电子部件；以及传递装置，被配置为在从所述第一均热腔室移动至所述测试腔室的过程中，或者从所述测试腔室移动至所述卸载位置的过程中传递测试托盘，其中，所述传递装置包括：第二均热腔室，在收容从所述第一均热腔室接收的测试托盘之后，维持所述第一均热腔室向电子部件施加的热刺激，并具有能够使所述测试托盘出入的第二出入口；开闭器，开闭所述第二均热腔室的所述第二出入口；堆载块，能够堆载从所述测试腔室搬出的测试托盘，并以与所述第二均热腔室结合为一体的方式配备；移动器，使所述第二均热腔室移动，以使所述第二均热腔室位于所述第一均热腔室或所述测试腔室的一侧，其中，所述电子部件测试用分选机还包括：供应器，从所述第二均热腔室向所述测试腔室供应测试托盘；回收器，从所述测试腔室向所述堆载块回收测试托盘，当所述第二均热腔室位于所述测试腔室的一侧时，所述第一出入口和所述第二出入口以彼此隔开而相向的方式形成，在所述开闭装置开放所述第一出入口后关闭所述第一出入口之前，所述供应器和所述回收器运行而将装有完成测试的电子部件的测试托盘经由所述第一出入口而回收至所述堆载块，并将装有需要测试的电子部件的测试托盘依次经由所述第二出入口和第一出入口而供应至所述测试腔室，从而在一次运行所述开闭装置时能够实现所述测试腔室和所述传递装置之间的测试托盘的交换。