[发明专利]一种用于阵列天线校准的天线面测量方法有效
| 申请号： | 201811255889.2 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109444561B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张舒楠;欧阳骏 | 申请（专利权）人： | 成都德杉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 成都巾帼知识产权代理有限公司 51260 | 代理人： | 邢伟 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于阵列天线校准的天线面测量方法，包括以下步骤：S1.对于具有M个天线单元的阵列天线，选取M个测量点进行电场测量；S2.建立测量模型；S3.获取测量点与天线阵列之间的互耦系数矩阵；S4.同时激励所有天线单元，依次在每个测量点上测量得到电场；S5.根据测量模型求解天线阵列的天线单元激励。本发明提供了一种用于阵列天线校准的天线面测量方法，能够应用于任意形式的天线阵列进行天线单元激励测量，并且简化和测量步骤，节省了测量时间，为阵列天线的校准提供了依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 阵列 天线 校准 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于阵列天线校准的天线面测量方法，其特征在于：包括以下步骤：S1.对于具有M个天线单元的阵列天线，选取M个测量点进行电场测量；S2.建立测量模型：YM×1＝EM×M·XM×1，其中Y代表测量点上测量得到的数据，EM×M代表测量点与阵列单元之间的互耦系数矩阵；XM×1代表天线单元上的激励；S3.获取测量点与天线阵列之间的互耦系数矩阵EM×M；S4.同时激励所有天线单元，依次在每个测量点上测量得到电场yi，得到矩阵YM×1；S5.根据测量模型求解天线阵列的天线单元激励：XM×1＝E‑1YM×1。
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