[发明专利]一种激光光场互相干系数测试装置

摘要

本发明公开了一种激光光场互相干系数测试装置，半导体激光器出射的光束经分束镜分成光束Ⅰ和光束Ⅱ，光束Ⅰ和光束Ⅱ经过合束镜后，光束Ⅰ反射出的部分光与光束Ⅱ透射出的部分光产生干涉叠加，通过调节第一全反射镜或第二全反射镜的位置来实现对激光光场不同坐标的叠加，从而获得不同的叠加光场信息；第一光强探测器用于记录光束Ⅰ的光强I1，第三光强探测器用于记录光束Ⅱ的光强I2，第二光强探测器用于记录光束Ⅰ反射出的部分光强I1′与光束Ⅱ透射出的部分光强I2′干涉叠加后的总光强I，根据计算激光光场的互相干系数κ。本发明可计算出各个坐标组合下的相干系数，对改进半导体激光器的设计、提高光束质量有积极的影响。

主权项

1.一种激光光场互相干系数测试装置，其特征在于，包括：分束镜、第一全反射镜、第二全反射镜、合束镜、第一光强探测器、第二光强探测器和第三光强探测器；半导体激光器出射的光束经所述分束镜分成光束Ⅰ和光束Ⅱ，光束Ⅰ经所述第一全反射镜反射，光束Ⅱ经所述第二全反射镜反射，反射后的光束Ⅰ和光束Ⅱ经过所述合束镜后，光束Ⅰ反射出的部分光与光束Ⅱ透射出的部分光产生干涉叠加；通过调节所述第一全反射镜或第二全反射镜的位置来实现对激光光场不同坐标的叠加，从而获得不同的叠加光场信息；所述第一光强探测器用于记录光束Ⅰ的光强I₁，所述第三光强探测器用于记录光束Ⅱ的光强I₂，所述第二光强探测器用于记录光束Ⅰ反射出的部分光强I₁′与光束Ⅱ透射出的部分光强I₂′干涉叠加后的总光强I，根据计算激光光场的互相干系数κ。