[发明专利]CT系统能谱不一致性的校正方法有效
| 申请号： | 201811220019.1 | 申请日： | 2018-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109363703B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 高河伟;张丽 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CT系统能谱不一致性的校正方法，包括：利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；以及根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值。该校正方法消除了CT系统能谱不一致性，且不仅适用于静态的空间非均匀滤波片，还适用于对动态的时间非均匀滤波片的处理。 | ||
| 搜索关键词： | ct 系统 不一致性 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种CT系统能谱不一致性的校正方法，包括：利用测量的非均匀滤波片的透射值和不含非均匀滤波片的CT系统有效能谱进行非均匀滤波片厚度自适应估计，获得非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度；根据物体的线衰减系数、厚度信息和非均匀滤波片在每一个探测器单元位置处的等效厚度，建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据硬化函数关系得到硬化校正查找表；以及根据每一个探测器单元的硬化校正查找表，校正该探测器的多色投影值至对应单色投影值。
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