[发明专利]增强存储模块总线接口的稳定性余量的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201811210618.5 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN109450755B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 方宏飞;张坤;冯杰 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)股份有限公司
主分类号: H04L12/40 分类号: H04L12/40
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了增强存储模块总线接口的稳定性余量的方法及系统,属于通信技术领域。本发明通过将总线接口中采样区域最短的通信接口作为目标通信接口,使每个通信接口的采样区域与目标通信接口的中间采样区域位置对齐;根据每个通信接口对应的控制单元中寄存器对应的参数值生成采样点的采样数据,利用该采样数据对总线接口进行采样以获取总线接口的稳定性余量,从而实现通过该总线接口的稳定性余量能够准确读取信号,提升存储模块总线接口稳定性的目的。
搜索关键词: 增强 存储 模块 总线接口 稳定性 余量 方法 系统
【主权项】:
1.一种增强存储模块总线接口的稳定性余量的方法,所述存储模块包括存储单元和控制单元,根据所述控制单元的采样时钟的边沿对所述控制单元的总线接口进行采样;其特征在于,所述方法包括下述步骤:获取所述总线接口中每个通信接口的采样区域;将所述总线接口中采样区域最短的通信接口作为目标通信接口;调整其他所述通信接口的采样区域使每个所述通信接口的采样区域与所述目标通信接口的中间采样区域位置对齐;提取每个所述通信接口中间采样位置对应的所述控制单元中寄存器对应的参数值;根据所述寄存器对应的参数值生成采样点的采样数据;根据所述采样数据对所述总线接口进行采样以获取所述总线接口的稳定性余量。
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