[发明专利]一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置

摘要

本发明专利公开了一种基于三F‑P标准具的高精度波长测量装置。入射光经过一分二光纤耦合器后分成两束光，一束光入射到光电探测器上作为参考光，另一束光入射到一分四光纤耦合器上，将光平均分成四束，一束光经线性滤波器后入射到光电探测器上，另三路光经由对应的多光纤准直器后入射到对应的F‑P标准具上，产生对应的透射光和对应的反射光，产生的透射光经过对应的单光纤准直器后，再由光电探测器采集相应的透射光的光强，产生的反射光反射回到多光纤准直器后，经光电探测器采集对应反射光的光强，最后，将八路光电探测器采集的光强信号由采集卡采集对应的电压信号，并输入到电脑上进行分析计算得出波长。

主权项

1.一种基于三F‑P标准具的高精度波长测量装置，其特征在于：待测光束经过一分二光纤耦合器（1）等分成两束光分别入射到光纤①和光纤②，通过光纤①的出射光束直接由第一光电探测器（17）接收；进入光纤②的光束经由一分四光纤耦合器（2）等分成四束光分别入射到光纤③、光纤④、光纤⑤和光纤⑥，光纤③中的光束经第一多光纤准直器（3）后出射的光束⑩照射到被第一旋转台（9）转动一定角度后的第一F‑P标准具（6）上，光纤③中的光束在经过第一F‑P标准具（6）产生的透射光⑬被第一单光纤准直器（14）接收并传递至第二光电探测器（18），光纤③中光束在经过第一F‑P标准具（6）产生的反射光⑯照射到第一多光纤准直器（3）上，再经过光纤⑦传递到第三光电探测器（19）上；光纤④中的光束经第二多光纤准直器（4）后出射的光束⑪垂直照射到被第二旋转台（10）转动一定角度后的第二F‑P标准具（7）上，光纤④中的光束在经过第二F‑P标准具（7）产生的透射光⑭被第二单光纤准直器（15）接收并传递至第四光电探测器（20），光纤④中的光束在经过第二F‑P标准具（7）产生的反射光⑰照射到第二多光纤准直器（4）上，再经过光纤⑧传递到第五光电探测器（21）上；光纤⑤中的光束经第三多光纤准直器（5）后出射的光束⑫同样照垂直射到被第三旋转台（11）转动一定角度后的第三F‑P标准具（8）上，光纤⑤中的光束经过第三F‑P标准具（8）产生的透射光⑮被第三单光纤准直器（16）接收并传递至第六光电探测器（22），光纤⑤中的光束经过第三F‑P标准具（8）产生的反射光⑱照射到第三多光纤准直器（5）上，再经过光纤⑨传递到第七光电探测器（23）上；光纤⑥中的光束经由线性滤波器（12）传递到第八光电传感器（24）；第一光电传感器（17）至第八光电传感器（24）采集到的信号经由数据采集卡（25）采集并上传到计算机（26）进行分析和计算；该系统中，第一多光纤准直器（3）、第二多光纤准直器（4）、第三多光纤准直器（5）、第一F‑P标准具（6）、第二F‑P标准具（7）、第三F‑P标准具（8）、第一旋转台（9）、第二旋转台（10）、第三旋转台（11）、第一单光纤准直器（14）、第二单光纤准直器（15）、第三单光纤准直器（16）均放置在恒温箱（13）中。