[发明专利]一种冲击贯入式星壤剖面柔性探尺有效

专利信息
申请号: 201811122942.1 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN109187072B 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 张伟伟;刘荣凯;姜水清;刘宾;季节;徐传喜;马超;沈毅;邓宗全;姜生元 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N1/08 分类号: G01N1/08;G01B3/04
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 张金珠
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种冲击贯入式星壤剖面柔性探尺,属于地外天体采样探测技术领域。本发明解决了现有的采用圆管型潜入基体的星壤剖面采样探测装置所需挤密空间大、占用空间大以及贯入困难的问题。它包括壳体、探尺本体及设置于壳体内部的潜入作动部分,壳体内竖直固设有中间隔板,所述探尺本体包括固装在中间隔板上的尺囊、盘设在尺囊上的探尺基体以及键合于探尺基体表面的若干传感器,探尺基体的一端为探头,探头后部固接有记忆合金采样片,所述探尺基体上沿其长度方向并排开设有若干拔动孔,通过潜入作动部分驱动探尺基体运动。
搜索关键词: 一种 冲击 贯入式星壤 剖面 柔性
【主权项】:
1.一种冲击贯入式星壤剖面柔性探尺,其特征在于:它包括壳体(1)、探尺本体(2)及设置于壳体(1)内部的潜入作动部分,壳体(1)内竖直固设有中间隔板(1‑1),所述探尺本体(2)包括固装在中间隔板(1‑1)上的尺囊(2‑1)、盘设在尺囊(2‑1)上的探尺基体(2‑2)以及键合于探尺基体(2‑2)表面的若干传感器(2‑3),探尺基体(2‑2)的一端为探头(2‑21),探头(2‑21)后部固接有记忆合金采样片(2‑22),所述探尺基体(2‑2)上沿其长度方向并排开设有若干拔动孔(2‑23),通过潜入作动部分驱动探尺基体(2‑2)运动。
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