[发明专利]基于单光子成像器件的光子级空间映射关联性测量方法有效

专利信息
申请号: 201811104512.7 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109141654B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 金贤敏;孙轲;高俊;曹明明;刘煜 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于单光子成像器件的光子级空间映射关联性测量方法,通过探测器件将量子在目标空间的变量转化为光子的位置变量,将目标空间变量的关联转换为位置空间变量的关联,通过探测器件按照时间顺序逐帧拍摄并以时间间隔划分,通过将划分内时间上的关联事件记录在关联矩阵中,构造出时领的关联矩阵;位置空间内,利用探测器件得到光子的空间位置关联,间接实现目标空间变量的时间相关关联测量及非时间相关关联测量。本发明设置成像系统的门宽时间,测量时间相关及非时间相关关联信息,并利用傅里叶滤波的方式对连续性进行恢复。
搜索关键词: 基于 光子 成像 器件 空间 映射 关联性 测量方法
【主权项】:
1.一种基于单光子成像器件的光子级空间映射关联性测量方法,其特征在于,通过探测器件将量子在目标空间的变量转化为光子的位置变量,将目标空间变量的关联转换为位置空间变量的关联,时间领域内,通过探测器件按照时间顺序逐帧拍摄并以时间间隔划分,将划分内时间上的关联事件记录在关联矩阵中,构造出时领的关联矩阵;位置领域内,利用探测器件得到光子的空间位置关联,间接实现目标空间变量的时间相关关联测量及非时间相关关联测量;所述的目标空间是指:待测量子特性所处的希尔伯特空间;所述的位置空间是指:经转换系统转换后的光子位置所构成的希尔伯特空间。
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