[发明专利]一种用于提高半导体腔体铝溶射层使用寿命的溶射工艺在审

专利信息
申请号: 201811103122.8 申请日: 2018-09-20
公开(公告)号: CN109182945A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 何新玉;赵浩;王慧 申请(专利权)人: 芜湖通潮精密机械股份有限公司
主分类号: C23C4/02 分类号: C23C4/02;C23C4/08;C23C4/129;C23C4/131
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 朱圣荣
地址: 241000 安徽省芜*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明揭示了一种用于提高半导体腔体铝溶射层使用寿命的溶射工艺,溶射工艺包括以下步骤:1)预处理喷砂;2)清洗干燥;3)火焰溶射制备底溶射层;4)在底溶射层上利用电弧溶射制备工作层溶射层;5)清洗干燥,在1)预处理喷砂前,对部件待溶射的表面加工连续的V形槽,开槽深度为0.1~0.2mm。该工艺能够获得具有高粗糙度和高结合力的溶射层。
搜索关键词: 预处理 半导体腔体 清洗干燥 使用寿命 喷砂 制备 电弧 表面加工 高粗糙度 高结合力 工作层 开槽
【主权项】:
1.一种用于提高半导体腔体铝溶射层使用寿命的溶射工艺,溶射工艺包括以下步骤:1)预处理喷砂;2)清洗干燥;3)超音速火焰溶射制备底溶射层;4)在底溶射层上利用电弧溶射制备工作层溶射层;5)清洗干燥,其特征在于:在1)预处理喷砂前,对部件待溶射的表面加工连续的V形槽,开槽深度为0.1~0.2mm。
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