[发明专利]一种多路大功率微波注入与S参数测量的自动化一体装置有效

专利信息
申请号: 201811086063.8 申请日: 2018-09-18
公开(公告)号: CN109188234B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 高原;秦风;吴双;赵景涛;陈自东;刘廷军;袁月乾 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 詹永斌
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了与隔离器连接的单刀双掷微波开关A的选择端,解决了目前半导体器件微波注入效应实验与测量场景分离、效率低下、实验可靠性低等问题,包括功率放大器、微波S参数测量设备、环形器、微波开关、微波开关控制器、隔离器和负载,微波开关控制器的信号输出信号与微波开关连接,本发明采用双数结构的装置,能够自动实现微波注入和半导体参数测量,被测器件不需要再反复连接,器件不会因为参数的测量造成损伤,测量的结果可靠。
搜索关键词: 一种 大功率 微波 注入 参数 测量 自动化 一体 装置
【主权项】:
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