[发明专利]阵列基板检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201811076861.2 | 申请日： | 2018-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN109036236B | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 李波;李建楠;王雷;胡岩;袁洪光;刘备;唐毅 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 张静尧 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种阵列基板检测方法及检测装置，涉及显示技术领域，用于改善现有技术中对阵列基板上的信号线进行良率测试的过程耗费时间长的问题。阵列基板检测方法，包括：向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；获取每根所述数据线上的所述采集信号；根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括：向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；获取每根所述数据线上的所述采集信号；根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司，未经京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811076861.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
