[发明专利]一种在线检测玻璃原片杂质的方法

摘要

本发明涉及玻璃原片杂质检测的技术领域，公开了一种在线检测玻璃原片杂质的方法，包括以下步骤：(1)、将玻璃原片放置在玻璃原片传输台上；(2)通过低倍观测线阵对玻璃原片进行检测，发现玻璃原片的杂质并获取杂质的坐标数据；(3)计算机滑台控制模块控制高倍定位识别模块移动至底部观测线阵所发现的杂质的正上方，高倍定位识别模块与杂质同步移动一段时间，高倍定位识别模块通过投影获得杂质轮廓图像数据；(4)高倍定位识别模块将获取的杂质轮廓图像数据传输至计算机图像处理模块，计算机图像处理模块进行特征缺陷类型轮廓判定；(5)循环步骤(3)至(4)，直至完成对低倍观测线阵所发现的所有杂质点的检测；操作简单，检测效率高。

主权项

1.一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，使用在线缺陷检测装置对玻璃原片的不透明杂质点进行观测，并通过投影轮廓对杂质类型进行识别；所述在线缺陷检测装置包括玻璃原片传输台、低倍观测线阵、高倍定位识别模块、计算机滑台控制模块、计算机图像处理模块组成；包括以下步骤：(1)、将玻璃原片放置在所述玻璃原片传输台上；(2)、通过所述低倍观测线阵对所述玻璃原片进行检测，发现所述玻璃原片的杂质并获取杂质的坐标数据，将杂质的坐标数据传输至所述计算机滑台控制模块；(3)、所述计算机滑台控制模块接收杂质的坐标数据，并控制所述高倍定位识别模块移动至所述底部观测线阵所发现的杂质的正上方，然后所述高倍定位识别模块与杂质同步移动一段时间，在同步移动的这段时间内，所述高倍定位识别模块通过投影获得杂质轮廓图像数据；(4)、所述高倍定位识别模块将获取的杂质轮廓图像数据传输至计算机图像处理模块，所述计算机图像处理模块进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质类型则记录该杂质点坐标；(5)、循环步骤(3)至(4)，直至完成对所述低倍观测线阵所发现的所有杂质点的检测。