[发明专利]一种基于Ce(III)/AgNCs复合纳米簇材料检测硫离子的方法在审

专利信息
申请号: 201811057173.1 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN109211856A 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 鲍慧娟;刘金水;宋波 申请(专利权)人: 安徽师范大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 尹婷婷
地址: 241000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于Ce(III)/AgNCs复合纳米簇材料检测硫离子的方法,利用Ce(III)离子能够有效地增强银纳米簇(AgNCs)的荧光发射,形成Ce(III)/AgNCs复合体系。当往该体系中加入微量的S2‑时,由于S2‑与Ce(III)/AgNCs复合体系中的Ag原子发生作用,从而破坏了Ce(III)/AgNCs复合体系的原有结构导致Ce(III)/AgNCs复合体系的荧光强度猝灭,淬灭后的荧光强度与S2‑离子的浓度成线性关系,据此建立了一种检测S2‑离子的方法,该方法操作简单,能快速实时的对S2‑进行痕量检测。
搜索关键词: 复合体系 离子 材料检测 复合纳米 硫离子 荧光 浓度成线性关系 痕量检测 银纳米簇 荧光发射 有效地 种检测 淬灭 猝灭
【主权项】:
1.一种基于Ce(III)/AgNCs复合纳米簇材料检测硫离子的方法,其特征在于,包括以下步骤:A、将AgNCs纳米簇溶液与Ce(III)离子溶液混合,反应5min;B、分别向步骤A得到的混合溶液中加入不同浓度的S2‑溶液,调节pH为7.0,并用去离子水稀释定容,搅拌反应10分钟;C、测量上述各组溶液的荧光强度;D、以S2‑浓度C为X轴,对应的425nm处的荧光强度F为Y轴作图,得到S2‑浓度与荧光强度之间的线性方程,根据线性方程可计算出任意荧光强度F所对应的S2‑浓度。
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