[发明专利]一种用于模块测试的装置有效
| 申请号： | 201811055559.9 | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN109298209B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 雷恒宁;高瞻;熊尚威 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100851*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于模块测试的装置，包括：基座；设于所述基座上方的操作台；位于所述操作台和所述基板之间的滑动机构；设置在操作台上的对接机构。本发明提供的用于模块测试的装置，通过设置滑动机构和对接机构，能够实现两组触点与被测模块同时对位连接，从而一方面能够在单次测试试验的过程中完成两组不同类型触点的对位连接，省时省力，操作时间短；另一方面，滑动机构和对接机构在两个方向上限制被测模块的位移，从而在被测模块位移过程中更加稳定，能够适应集成度更高、体积更小的被测模块的测试，有利于小型化模块的测试试验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 模块 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于模块测试的装置，其特征在于，包括：基座，所述基座上包括用于电连接的至少一个第一触点；设于所述基座上方的操作台，所述操作台具有承载被测模块的区域；位于所述操作台和所述基板之间的滑动机构，所述滑动机构使所述操作台沿第一方向滑动，以实现所述被测模块与所述第一触点电连接或信号连接；设置在操作台上的对接机构，所述对接机构包括用于电连接的至少一个第二触点，所述对接机构沿第二方向运动以实现所述第二触点与所述被测模块电连接或信号连接。
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