[发明专利]一种温度测量装置及比热容和导热率的测量方法在审

专利信息
申请号: 201811050166.9 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN108775971A 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 谭思聪;郭聪;王涛;李铁;姜玉雁 申请(专利权)人: 中国科学院工程热物理研究所
主分类号: G01K7/02 分类号: G01K7/02;G01N25/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周天宇
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种温度测量装置,用于测量待测物体(3)的温度,包括:真空箱(11);辐射加热箱(13),位于所述真空箱(11)中,所述辐射加热箱(13)外表面设有电加热丝,所述待测物体(3)放置于该辐射加热箱(13)中心;电源(21),用于加热所述辐射加热箱(13);温度数据采集器(23),包括多个热电偶,其中,所述多个热电偶中的一部分设于所述待测物体(3)的每个表面,所述多个热电偶中的另一部分设于所述辐射加热箱(13)的表面。另一方面,本发明提供了一种基于该温度测量装置的比热容和导热率的测量方法。
搜索关键词: 辐射加热箱 温度测量装置 待测物体 热电偶 测量 导热率 真空箱 温度数据采集器 电加热丝 加热 电源
【主权项】:
1.一种温度测量装置,用于测量待测物体(3)的温度,包括:真空箱(11);辐射加热箱(13),位于所述真空箱(11)中,所述辐射加热箱(13)外表面设有电加热丝,所述待测物体(3)放置于该辐射加热箱(13)中心;电源(21),用于加热所述辐射加热箱(13);温度数据采集器(23),包括多个热电偶,其中,所述多个热电偶中的一部分设于所述待测物体(3)的每个表面,所述多个热电偶中的另一部分设于所述辐射加热箱(13)的表面。
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