[发明专利]一种折射率显微测量系统在审
| 申请号： | 201811041590.7 | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN109142273A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 万超;辛自强;张崇磊;宋伟;闵长俊;方晖;袁小聪 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 袁文英 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于光学领域，提供了一种折射率显微测量系统，包括探测光产生装置、扫描探测装置和信号采集与处理装置，其中，扫描探测装置用于将探测光产生装置提供的探测光聚焦在样品片上，并对样品片进行扫描以产生实验光信号，该实验光信号中包含有样品片的折射率信息，信号采集与处理装置用于采集实验光信号，并对采集到的实验光信号进行包括光电转换、去噪和信息提取处理后，得到样品片的折射率信息。本发明提供的折射率显微测量系统在进行测量时，折射率的测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 折射率 显微测量系统 探测光 信号采集与处理 扫描探测装置 折射率信息 产生装置 采集 测量精度高 光电转换 光学领域 信息提取 去噪 扫描 测量 聚焦 | ||
【主权项】：
1.一种折射率显微测量系统，其特征在于，包括：探测光产生装置、扫描探测装置和信号采集与处理装置；所述探测光产生装置，用于提供具有紧聚焦特性的探测光；所述扫描探测装置，用于将所述探测光聚焦在样品片上，并对所述样品片进行扫描以产生实验光信号，所述实验光信号中包含有所述样品片的折射率信息；所述信号采集与处理装置，用于采集所述实验光信号，并对所述实验光信号进行包括光电转换、去噪和信息提取的处理后，得到所述样品片的折射率信息。
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