[发明专利]穿透率检测方法、装置和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201811024525.3 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN109142284B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 何洋 | 申请（专利权）人： | 重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 400000 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种穿透率检测方法，所述穿透率检测方法包括以下步骤：获取待测试偏光片在测试点处的初始穿透率；获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试偏光片的穿透率。本发明还公开了一种穿透率检测装置和计算机可读存储介质。本发明使得偏光片的穿透率检测减小了背光波动和对位偏差导致的误差，提高了偏光片检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 穿透 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种穿透率检测方法，其特征在于，所述穿透率检测方法包括以下步骤：获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。
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