[发明专利]用于测量电磁场的测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 201810990568.0 | 申请日： | 2018-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN110161321A | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 亚当·坦基伦;科比特·罗威尔 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 张敬强;李平 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供用于测量电磁场的测量装置和测量方法。为此目的，测量探头被设置在机械探头定位结构上并且沿数量为一个或多个的圆形轨道移动。以这种方式，测量探头随后可被定位在多个不同的空间位置，并且可以测得对应的电磁信号。因此，可以通过考虑相对于相关空间位置测得的电磁信号来确定电磁场的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量电磁场 测量探头 测量装置 电磁信号 空间位置 测量 定位结构 机械探头 圆形轨道 电磁场 移动 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量电磁场的测量装置(100)，所述测量装置(100)包括：测量探头(1)，其适用于测量电磁信号并提供与测得的电磁信号对应的测量信号；机械探头定位结构(2)，其适用于承载测量探头(1)并且可控地移动测量探头(1)，其中机械探头定位结构(2)适用于使测量探头(1)围绕预定轴线(R)进行旋转运动；以及分析设备(3)，其适用于确定机械探头定位结构(2)相对于预定参考位置(A)的旋转角度(a)，并且基于测量探头(1)在至少两个不同的旋转角度(a)下测得的测量信号来计算电磁场。
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