[发明专利]一种表面粗糙度表征方法有效
申请号: | 201810989389.5 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN109186526B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 张士军;张胜豪 | 申请(专利权)人: | 山东建筑大学 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250101 山东省济*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 已有的传统的表面粗糙度评定参数,例如Ra、Rq、Rz等并不能提供出表面规则形的特征信息。本发明提出一种表面粗糙度表征方法,通过该方法的实施可以弥补传统粗糙度表征方式无法描述工件表面微观不平度均匀性的不足。本发明的技术方案是计算工件表面微观轮廓高度方向上测量数据的均值,以区分峰值和谷值;设定峰值的阈值,计算所有大于阈值的测量数据的均值与峰值均值的比值,根据此比值的大小来判别工件表面形貌的均匀情况,比值越大则工件表面微观轮廓越不均匀;计算所有测量数据中的最大值与最小值,并求出两者的绝对值的均值,利用该均值与所有测量数据的均值绝对值的比值就可以进一步判别工件表面形貌均匀情况。 | ||
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【主权项】:
1.一种表面粗糙度表征方法,其特征在于,步骤如下:步骤1、利用粗糙度测量仪器测量已加工工件表面,得到已加工表面取样区间内N个连续的微观轮廓高度方向的测量数据ai,所述i=1,2,3,……,N;步骤2、计算所述测量数据ai的均值M,并绘制M均值线;步骤3、大于所述均值M的ai称为峰值,小于均值M的ai称为谷值,计算峰值均值Fmean;步骤4、计算峰值的阈值Fy,所述阈值Fy等于峰值均值Fmean乘以阈值系数Xf,即:Fy=Fmean*Xf,所述阈值系数Xf大于等于1;步骤5、计算相对系数Sf,Sf等于所有大于Fy的所述ai的均值的绝对值|aimean|与峰值均值的绝对值|Fmean|的比值,即Sf=|aimean|/|Fmean|;步骤6、计算最大的峰值点到均值线M的距离Dfmax,最小的峰值点到均值线M的距离Dfmin;步骤7、计算最小的谷值点到均值线M的距离Dgmax,最大的谷值点到均值线M的距离Dgmin;步骤8、计算最值系数Sfg,所述最值系数Sfg等于Dfmax与Dgmax之和与Dfmin与Dgmin之和的比值,即Sfg=(Dfmax+Dgmax)/(Dfmin+Dgmin);步骤9、根据所述相对系数Sf与最值系数Sfg的值的大小,判断工件表面微观形貌的均匀性,Sf或者Sfg的值越接近于1则表示已加工表面微观几何形貌越均匀,Sf或者Sfg的值越大,则表示已加工表面微观几何形貌越不均匀。
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