[发明专利]用于经由代表性I/O发生器测试储存设备的方法和系统有效
| 申请号： | 201810980478.3 | 申请日： | 2018-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN109509505B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | J.S.比马尼;R.潘杜兰甘;V.巴拉克里什南;崔昌皓 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的实施例的方面涉及生成代表性I/O的系统和方法。该系统被配置为利用被存储在模式数据库中的代表性I/O模式。用户可以选择一个或多个模式来执行I/O使用。根据用户提供的参数来修改模式，并将多个模式集成到单一工作负载中。然后根据工作负载生成I/O，并且可以测量系统性能。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 经由 代表性 发生器 测试 储存 设备 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种被配置为生成代表性输入/输出I/O的储存系统，所述储存系统包括：处理器；以及存储器，被耦合到所述处理器，其中所述存储器存储指令，所述指令当由处理器执行时使得处理器：从模式数据库中检索第一代表性I/O模式；通过根据至少一个工作负载参数修改第一代表性I/O模式来组装代表性工作负载；基于代表性工作负载生成代表性I/O；并且测量储存系统性能。
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