[发明专利]模块化数字阵列天线的环境测试方法在审
| 申请号： | 201810966789.4 | 申请日： | 2018-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN109188112A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 阳安源 | 申请（专利权）人： | 四川莱源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了模块化数字阵列天线的环境测试方法，包括：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线进行连续的低温和高温工作状态测试，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、对测试结果进行对比分析计算，得出环境适应性测试报告。其应用时，可以模拟出极端温湿度环境，并将模块化数字阵列天线投入这样的环境中进行电性能测试，以便分析其环境适应性。 | ||
| 搜索关键词： | 模块化数字 阵列天线 记录测试 试验箱 测试 高温工作状态 电性能测试 环境适应性 环境测试 低温工作状态 温湿度环境 测试报告 对比分析 理想状态 湿热 重复 应用 分析 | ||
【主权项】：
1.模块化数字阵列天线的环境测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最低温度为‑55℃，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最高温度为70℃，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线在试验箱中进行连续的低温和高温工作状态测试，温度循环次数不少于三次，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、将步骤S1～S5得出的测试结果输入计算机进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的环境适应性测试报告。
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