[发明专利]薄膜电容寿命预测方法

摘要

本发明公开了一种薄膜电容寿命预测方法，包括如下步骤：一、选用一款标准的直流电容器，测试样件N个，测试方法如下：1、电容器放置在30±2℃的环境下至少12小时后，进行端子间耐电压，5分钟后测试容量损耗；2、电容器放置在70℃的环境下至少12小时；3、在70℃，对电容器施加2600VDC保持500小时。本发明方案填补了膜电容根据现场实测情况进行经验判定，无寿命预测方案的技术空白，不仅为不同阶段的修程修制提供技术支撑，而且可作为整体系统级产品PHM的薄膜电容类器件的判定模型，在检修判定和预测性修理方面已取得了积极的效果。

主权项

1.一种薄膜电容寿命预测方法，其特征在于：包括如下步骤：一、选用一款标准的直流电容器，测试样件N个，测试方法如下：1、电容器放置在30±2℃的环境下至少12小时后，进行端子间耐电压，5分钟后测试容量损耗；2、电容器放置在70℃的环境下至少12小时；3、在70℃，对电容器施加2600VDC保持500小时；4、耐久性试验进行到500小时，电容器应停止通电，并在环境温度下的静止空气中冷却，对样品进行1000次放电，其峰值电流为1.4*4＝5.6KA；5、重复步骤2到步骤4；在试验过程中，每96个小时，测量并记录一次电容容值；二、电容的寿命趋势服从指数分布函数f(x)，令x为时间，y为测试值(容值)，记录实测值，其中某一具体时间下所有样本的测试值取加权平均值，得到实测值对应关系表；三、计算分布函数f(x)，方法如下：对y＝aebx两边取对数得ln y＝ln a+bx令c₀＝ln a，c₁＝b，则拟合曲线为将y_i取对数后，原数据表变为新数据表，对此新数据，用直线进行最小二乘拟合c＝(c₀，c₁)^T，法方程为为解出 c0和c1即可得出 y＝aebx中a和b的值，通过上述公式计算预测其他时间下的容值，以此来进行电容的寿命预测。