[发明专利]一种基板叠材的检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 201810871868.7 | 申请日： | 2018-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN109100365B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 李业飞;罗平;洪俊 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01;G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种基板叠材的检测装置及检测方法，该检测装置包括：光源设备，采光设备，以及处理设备，与采光设备耦合连接。其中，光源设备发出的入射光与待检测基板叠材所在的平面的夹角为θ1，0θ1180°，采光设备采集待检测基板叠材对入射光的反射光以形成检测图像，处理设备处理检测图像，分析检测图像的参数是否匹配预设参数。本申请通过调整入射光与待检测基板叠材所在的平面的夹角，能够提高检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基板叠材 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基板叠材的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：光源设备；采光设备；以及处理设备，与所述采光设备耦合连接；其中，所述光源设备发出的入射光与所述基板叠材所在的平面的夹角为θ1，0<θ1<180°，所述采光设备采集所述基板叠材对所述入射光的反射光以形成检测图像，所述处理设备处理所述检测图像，分析所述检测图像的参数是否匹配预设参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TCL华星光电技术有限公司，未经TCL华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810871868.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
