[发明专利]一种基于故障混杂模型的机电系统寿命预测方法有效
| 申请号： | 201810856351.0 | 申请日： | 2018-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN109241558B | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 赵广燕;常莉莉;孙宇锋;胡薇薇;杨昀澄 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 11386 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 马东伟;龚颐雯 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于故障混杂模型的机电系统寿命预测方法，属于可靠性工程技术领域，解决了现有技术中机电系统寿命预测效率低下、成本高的问题。步骤如下：将机电系统按照功能分为若干功能模块；建立各功能模块的故障混杂模型，得到相应的功能模块故障混杂模型传递函数；同时对机电系统无故障和故障混杂情况进行仿真，获取机电系统无故障输出信号、机电系统发生混杂故障时的输出信号及故障特征值，通过故障特征值达到故障阈值的时间预测机电系统的寿命。该方法能够有效提高机电系统寿命预测效率、降低预测成本；此外，该方法可以在产品设计阶段对产品进行寿命预测，为后续产品改进设计、发现薄弱环节提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 机电系统 混杂 寿命预测 产品设计阶段 故障输出信号 模型传递函数 可靠性工程 薄弱环节 后续产品 模块故障 时间预测 输出信号 预测 改进 发现 | ||
【主权项】：
1.一种基于故障混杂模型的机电系统寿命预测方法，其特征在于，所述方法步骤如下：/n将机电系统按照功能分为若干功能模块；/n分别建立每个功能模块的故障混杂模型，得到相应的功能模块故障混杂模型传递函数，再建立整个机电系统的故障混杂模型；/n所述建立各功能模块的故障混杂模型，包括：/n定义功能模块中电子器件发生结构性故障为离散事件，分析各功能模块中电子器件发生结构性故障的情况，得到n个离散事件；/n确定在每个离散事件中，故障混杂模型离散层的电路拓扑结构，建立相应的结构性故障下的电路状态方程；/n分析所述结构性故障电路状态方程中涉及到的电子器件，在故障混杂模型连续层中得到所涉及电子器件的参数变化函数；/n将离散层建立的结构性故障电路状态方程和相应的连续层所涉及的电子器件的参数变化函数，分别输入到故障混杂模型的交互层；/n在交互层中，用电子器件参数变化函数代替结构性故障电路状态方程中的相应的电子器件参数值，得到故障混杂模型结果；/n分别对机电系统无故障和故障随机发生情况下随时间变化的故障混杂情况进行仿真，获取机电系统无故障输出信号、机电系统发生混杂故障时的输出信号及故障特征值，通过故障特征值达到故障阈值的时间预测机电系统的寿命。/n
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