[发明专利]一种GPGPU纹理采样器的硬件实现在审
| 申请号： | 201810853065.9 | 申请日： | 2018-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN109166169A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 龙斌 | 申请（专利权）人： | 长沙景美集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G06T15/04 | 分类号： | G06T15/04;G06T1/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 410221 湖南省长*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 针对GPGPU中大量的纹理贴图应用过程中，如果采用通常的纹理采样器，上层逻辑需要根据纹理坐标的绕回、纹理边框越界等问题，需要多次发送纹理读取请求，然后根据多组纹理像素对数据进行滤波合成等操作，导致上层逻辑接口效率低下，降低整体性能。为了解决这一问题，本发明公开了一种GPGPU纹理采样单元的硬件实现方案，自动的完成纹理绕回和越界时的地址计算以及返回的纹理图片像素的滤波运算，降低纹理采样器在三维图形绘制引擎中的瓶颈效应，大幅提高上层逻辑的整体运行速度。 | ||
| 搜索关键词： | 纹理 采样器 硬件实现 上层 越界 边框 采样单元 地址计算 读取请求 多次发送 绘制引擎 滤波运算 逻辑接口 瓶颈效应 三维图形 纹理贴图 纹理图片 纹理像素 纹理坐标 应用过程 滤波 像素 合成 返回 | ||
【主权项】：
1.纹理采样请求解析：根据纹理坐标以及纹理绕回和纹理边框越界情况，当纹理坐标出现上溢(即坐标超过纹理图片的实际宽度和高度）和下溢(纹理坐标计算为负数)时，进行采样请求的解析发送以及缓存访问地址的生成转化。
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