[发明专利]GaN功率放大器芯片自动化在片测试系统在审
| 申请号： | 201810820234.9 | 申请日： | 2018-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110007209A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 汪家乐;宣银良;晏殊;丁旭;王立平 | 申请（专利权）人： | 浙江铖昌科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人： | 董世博 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了GaN功率放大器芯片自动化在片测试系统，包括微波信号源、驱动放大器、耦合器、在片测试模块、功率检测单元、功率环路自动化控制模块和功放自动化测试模块；依次按微波信号源、驱动放大器、耦合器、功率检测单元的顺序进行信号线连接，微波信号源、功率检测单元与功率环路自动化控制模块电性连接，并受其控制；耦合器与在片测试模块通过信号线连接，在片测试模块、功率环路自动化控制模块和功放自动化测试模块通过信号线连接，并受其控制；本发明提供GaN功率放大器芯片自动化在片测试系统，可以精确保证每颗芯片的输入功率要求，有效提高和保证测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 在片测试 功率放大器芯片 自动化控制模块 功率检测单元 微波信号源 信号线连接 功率环路 耦合器 自动化测试模块 驱动放大器 自动化 功放 电性连接 输入功率 芯片 保证 测试 | ||
【主权项】：
1.GaN功率放大器芯片自动化在片测试系统，其特征在于，包括微波信号源、驱动放大器、耦合器、在片测试模块、功率检测单元、功率环路自动化控制模块和功放自动化测试模块；依次按微波信号源、驱动放大器、耦合器、功率检测单元的顺序进行信号线连接，微波信号源、功率检测单元与功率环路自动化控制模块电性连接，并受其控制；耦合器与在片测试模块通过信号线连接，在片测试模块、功率环路自动化控制模块和功放自动化测试模块通过信号线连接，并受其控制。
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