[发明专利]一种同位素质谱仪在审
| 申请号： | 201810780924.6 | 申请日： | 2018-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN108987242A | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 姜山;靳根明 | 申请（专利权）人： | 姜山 |
| 主分类号： | H01J49/26 | 分类号： | H01J49/26;H01J49/06 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 王戈 |
| 地址： | 100000 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种同位素质谱仪。所述质谱仪包括：电子回旋共振离子源、前端分析装置、后端分析装置和离子探测器；电子回旋共振离子源与前端分析装置连接，电子回旋共振离子源用于产生多价电荷态的离子束；前端分析装置与后端分析装置连接，前端分析装置对离子束进行选择、分离，并接收常量、微量、痕量级的离子束；后端分析装置与离子探测器连接，后端分析装置用于排除超痕量级的待测同位素的本底；离子探测器用于接收超痕量级的离子束，并对超痕量级的离子束进行能量测量与分离，获得超痕量级的待测同位素。本发明的质谱仪具有排除分子本底和同量异位素本底能力，同时还有束流强、传输效率高等优点，从而有效地提高同位素MS测量的丰度灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 痕量级 离子束 分析装置 前端分析 电子回旋共振 离子探测器 同位素 离子源 同位素质谱仪 质谱仪 常量 传输效率 能量测量 装置连接 灵敏度 电荷态 束流强 有效地 丰度 | ||
【主权项】：
1.一种同位素质谱仪，其特征在于，所述质谱仪包括：电子回旋共振离子源、前端分析装置、后端分析装置和离子探测器；所述电子回旋共振离子源与所述前端分析装置连接，所述电子回旋共振离子源用于产生多价电荷态的离子束；所述前端分析装置与所述后端分析装置连接，所述前端分析装置对所述离子束进行选择、分离，并接收常量、微量、痕量级的离子束；所述后端分析装置与所述离子探测器连接，所述后端分析装置用于排除超痕量级的待测同位素的本底；所述离子探测器用于接收超痕量级的离子束，并对所述超痕量级的离子束进行能量测量与分离，获得超痕量级的待测同位素。
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