[发明专利]微电子测试系统在审
| 申请号： | 201810775955.2 | 申请日： | 2018-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN108919007A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 张科新 | 申请（专利权）人： | 常州信息职业技术学院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 常州智慧腾达专利代理事务所(普通合伙) 32328 | 代理人： | 曹军 |
| 地址： | 213164 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微电子测试系统，属于微电子技术领域。所述系统包括：至少一个搬运装置、第一输送装置、至少一个用于承载待测试件的承载件和测试线，测试线上由成行排列的至少一个测试底座组成，其中：搬运装置将承载有待测试件的承载件从第一输送装置搬运至一个测试底座上，承载有待测试件的承载件位于测试线的第一侧；测试底座对待测试件进行测试，测试底座上固定有弹片，弹片的一端与检测装置的检测引脚电连接，弹片的另一端固定有探头，承载件中设置有供探头伸入的通孔，探头能够伸入通孔与待测试件上的触点相接触；解决了微电子测试过程中探针需要反复更换的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试底座 承载件 微电子测试 测试件 测试线 探头 弹片 第一输送装置 搬运装置 待测试件 承载 伸入 通孔 微电子技术领域 成行排列 检测装置 电连接 中探针 触点 引脚 搬运 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种微电子测试系统，其特征在于，所述系统包括：至少一个搬运装置、第一输送装置、至少一个承载件和测试线，所述承载件用于承载一个待测试件，所述测试线上由成行排列的至少一个测试底座组成，所述第一输送装置的输送路线围绕所述测试线，所述第一输送装置用于输送所述承载件，其中：所述搬运装置将承载有待测试件的承载件从所述第一输送装置搬运至一个测试底座上，所述承载有待测试件的承载件位于所述测试线的第一侧；所述测试底座对所述待测试件进行测试，所述测试底座上固定有弹片，所述弹片的一端与检测装置的检测引脚电连接，所述弹片的另一端固定有探头，所述承载件中设置有供所述探头伸入的通孔，所述探头能够伸入所述通孔与所述待测试件上的触点相接触，所述探头和所述弹片均为导电介质；所述测试底座完成所述待测试件的测试后，所述搬运装置将所述承载件搬运至位于所述测试线的第二侧的第一输送装置上；所述第一输送装置将位于所述测试线的第二侧的承载件输送至所述测试线的第一侧。
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