[发明专利]一种锻件测量装置在审
申请号: | 201810768240.4 | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN108680082A | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
发明(设计)人: | 洪其群;高云;侯宝臣;魏杰;汪伟 | 申请(专利权)人: | 上海精智实业股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/14 | 分类号: | G01B5/14 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 200433 上海市杨浦区淞*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及锻造设备技术领域,具体公开了一种锻件测量装置,其包括套筒,还包括:下检测头,其下端面用于抵接待检测的锻件的第一平面;上检测组件,包括上检测头,上检测头的下端面用于抵接锻件的第二平面;上检测头能够沿套筒的轴向运动以靠近或远离下检测头;长度测量仪,当下检测头的下端面与上检测头的下端面沿套筒的轴向的距离为第一预设值时,上检测组件能够触发长度测量仪,长度测量仪用于测量上检测头触发长度测量仪后发生的位移;下检测头、上检测组件及长度测量仪均设置于套筒上。本发明提供的锻件测量装置只需经过一次测量就可以确定锻件两个平面的间距,测量方法简单,测量效率高。 | ||
搜索关键词: | 检测头 锻件 长度测量仪 下端面 套筒 测量装置 检测组件 触发 测量 测量效率 锻造设备 一次测量 轴向运动 平面的 抵接 预设 轴向 检测 | ||
【主权项】:
1.一种锻件测量装置,包括套筒(5),其特征在于,还包括:下检测头(2),其下端面用于抵接待检测的锻件(1)的第一平面;上检测组件,包括上检测头(31),所述上检测头(31)的下端面用于抵接所述锻件(1)的第二平面;所述上检测头(31)能够沿所述套筒(5)的轴向运动以靠近或远离所述下检测头(2);长度测量仪,当所述下检测头(2)的下端面与所述上检测头(31)的下端面沿所述套筒(5)的轴向的距离为第一预设值时,所述上检测组件能够触发所述长度测量仪,所述长度测量仪用于测量所述上检测头(31)触发所述长度测量仪后发生的位移;所述下检测头(2)、所述上检测组件及所述长度测量仪均设置于所述套筒(5)上。
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