[发明专利]一种基于实测结构面参数的裂隙岩体渗透张量的计算方法有效
| 申请号： | 201810703095.1 | 申请日： | 2018-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN109033538B | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 章杨松;王鑫永;李晓昭;许文涛 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01N15/08 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 封睿 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于实测结构面参数的裂隙岩体渗透张量的计算优化方法，在岩石露头面上标记控制点，同时从不同角度拍摄岩石露头面照片；根据标记控制点坐标定位照片上结构面迹线控制点的三维空间坐标，根据结构面迹线上控制点的聚类程度对测区进行均质区划分；根据结构面迹线的控制点坐标，建立待测均质区结构面迹线的三维模型；根据结构面迹线的三维模型，提取结构面迹长、产状和间距信息；对结构面迹长、产状和间距数据进行统计分析，确定各自服从的随机分布类型及参数；根据随机分布的类型和参数，计算待测均质区的渗透张量。本发明提高了结构面信息处理的精确性与效率，同时提升了计算模块中渗透张量与最优路径识别的计算效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 实测 结构 参数 裂隙 渗透 张量 计算方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于实测结构面参数的裂隙岩体渗透张量的计算方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、采用GPS‑RTK方法在岩石露头面上标记控制点，同时采用近景数字摄影测量技术从不同角度拍摄岩石露头面照片；步骤2、根据标记控制点坐标定位照片上结构面迹线控制点的三维空间坐标，根据结构面迹线上控制点的聚类程度对测区进行均质区划分；步骤3、根据结构面迹线的控制点坐标，建立待测均质区结构面迹线的三维模型；步骤4、根据结构面迹线的三维模型，提取结构面迹长、产状和间距信息；步骤5、对结构面迹长、产状和间距数据进行统计分析，确定各自服从的随机分布类型及参数；步骤6、根据随机分布的类型和参数，计算待测均质区的渗透张量；步骤7、评估渗透张量可靠性，若可靠，则输出，否则转至步骤1重新计算渗透张量。
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