[发明专利]一种无线充电纳米晶屏蔽片的表面处理方法有效
申请号: | 201810683032.4 | 申请日: | 2018-06-27 |
公开(公告)号: | CN109109426B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 毛石武;顾小建;关旺;赵俊;朱权 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
主分类号: | B32B37/00 | 分类号: | B32B37/00;B32B37/10;B32B37/12;B32B37/26;B32B38/00;B32B38/08;B32B38/10 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏;何俊 |
地址: | 322118 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及纳米晶屏蔽片制备领域,公开了一种无线充电纳米晶屏蔽片的表面处理方法,包括:1)退火;2)碎片化:在纳米晶屏蔽片表面覆硅胶保护膜后,进行碎片化处理;3)绝缘化填充:将纳米晶屏蔽片浸入纳米级固体绝缘粉末中,采取超声辅助的方式将纳米级固体绝缘粉末填充至裂纹中;4)贴合;5)等静压:将多层纳米晶屏蔽片装入真空袋中,抽真空密封处理;置于水中等静水压处理。本发明采用填充纳米级固体绝缘粉的方式,对碎片化后的纳米晶屏蔽片进行绝缘性处理,能够进一步降低纳米晶屏蔽片的Rs、涡流损耗,提高纳米晶屏蔽片的品质因数和充电效率。 | ||
搜索关键词: | 纳米晶 屏蔽片 纳米级固体 碎片化 填充 绝缘粉末 无线充电 抽真空密封 硅胶保护膜 静水压处理 退火 超声辅助 充电效率 品质因数 涡流损耗 浸入 等静压 绝缘粉 绝缘性 真空袋 多层 水中 贴合 绝缘 制备 装入 | ||
【主权项】:
1.一种无线充电纳米晶屏蔽片的表面处理方法,其特征在于包括以下步骤:1)退火:对纳米晶屏蔽片进行退火处理;2)碎片化:在纳米晶屏蔽片表面覆硅胶保护膜后,进行碎片化处理,使纳米晶屏蔽片表面产生裂纹;3)绝缘化填充:将碎片化后的纳米晶屏蔽片浸入纳米级固体绝缘粉末中,采取超声辅助的方式将纳米级固体绝缘粉末填充至裂纹中;4)贴合:取一片纳米晶屏蔽片在其裸露面覆一层有基材或无基材的双面胶,将该纳米晶屏蔽片作为底基面,然后另取一片纳米晶屏蔽片作为第二层,将第二层的裸露面与底基面的双面胶所在面贴合,剥离第二层的硅胶保护膜并覆上双面胶,依次类推贴合至所需层数;得到多层纳米晶屏蔽片,剥去上下表面的硅胶保护膜,在多层纳米晶屏蔽片的一面覆双面胶,另一面覆黑色单面胶,裁剪成设计尺寸;5)等静压:将裁剪后的多层纳米晶屏蔽片装入真空袋中,抽真空密封处理;然后置于水中进行等静水压处理,排除多层纳米晶屏蔽片中的气泡,同时将双面胶充分渗入裂纹中。
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